Caratterizzazione Hi-Throughput e XRF

MTI

16 campioni Lucidatrice automatica per la preparazione di campioni metallografici ad alta produttività - Unipol-1500-S16

MTI

Tester portatile di durezza Rockwell con sonda da 50 N (per 19-70 HRC) con software e computer portatile - RHT50-LD

MTI

Tester di resistività portatile a 4 sonde per elettrodi e substrato di cristallo - EQ-JX2008-LD

MTI

Mini (3") smerigliatrice/lucidatrice automatica con accessori completi - Unipol-300

MTI

Sistema automatico di scansione XRF a 32 campioni per analisi di composizione ad alta produttività - EQ-XRF-32-LD

MTI

Sistema automatico di prova di durezza Rockwell a 32 campioni per analisi di durezza ad alta produttività - EQ-RHT50-32-LD