Características
| - La estación XRF de alto rendimiento consta de:
- Espectrómetro XRF portátil fabricado por Olympus.
- Soporte del espectrómetro XRF y mecanismo de disparo.
- Sistema de platina XY y su caja de control
- Etapa de muestra transparente de 32 posiciones (no interfiere en la señal XRF)
- Ordenador portátil con software de control y análisis preinstalado
- Armario de la estación con luces de advertencia y cristal de plomo para la seguridad de los rayos X
- El funcionamiento automático mejora la eficacia, reduce los errores del operador y minimiza la exposición a los rayos X
- Medición y análisis XRF rápidos y automáticos de 32 muestras (~20 min según el tiempo de ensayo), y salida automática de datos de composición/espectro a través de un puerto USB
- El sistema XRF puede actualizarse con funciones de escaneo lineal 1D y escaneo cartográfico 2D por un coste adicional.
- Por favor, póngase en contacto con MTI para la personalización del sistema, como la etapa de la muestra con diferentes dimensiones, la integración de la estación con una caja de guantes, etc
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| Entrada de alimentación | |
>Espectrómetro de FRX
 
| - Fuente de rayos X:
- Tubo de rayos X: Tubo de rayos X con blanco Rh de 4 W (blanco opcional Ag, Au o Ta disponible)
- Tensión: 40 kV máx. (50 kV opcionales)
- Corriente: 200 ?A máx.
- Tamaño del punto: 3 mm (con colimador) y 9 mm
- Material de la ventana: Berilio (Be)
- Protección de ventana: Láminas de protección de ventana Kapton y Prolene
- Detector:
- SDD (detector de deriva de silicio): Alta resolución energética (165 eV FWHM) para una detección general que cubre toda la gama de elementos
- Tamaño del detector: 25 mm 2 detector de gran superficie para alta tasa de recuento
- Material de la ventana: Berilio (Be)
- Características:
- Una biblioteca de elementos para los elementos de aleación están preinstalados: Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hr, Ta, W, Re, Pb, Bi (Biblioteca de elementos personalizada disponible bajo pedido).
- Cámara CMOS integrada para observar el área de medición en la superficie de la muestra
- Sensor de proximidad de la muestra integrado para cerrar el obturador de rayos X si no se detecta ninguna muestra cerca del detector
- Conexión USB / Bluetooth a un ordenador portátil para el control remoto y la salida de datos
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Soporte y disparador XRF
| - Un soporte de espectrómetro XRF con mecanismo de disparo está integrado en el sistema para la medición continua y automática.
- El tiempo de medición XRF puede controlarse ajustando el tiempo de pulsación del mecanismo de disparo
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Etapa de muestra XY
 
| - Etapa XY controlada por pantalla táctil para un posicionamiento preciso de la muestra y repetibilidad de la medición
- El tiempo de medición XRF, la velocidad de desplazamiento de los ejes X/Y y las selecciones de muestras se pueden configurar en la pantalla táctil de la caja de control
- Se incluye una platina transparente de 32 muestras (sin interferencias con la señal XRF) para muestras de fusión por arco recibidas (?10 g) (tamaño máximo de la muestra: 20 mm).
- La muestra se apoya en una película de Prolene transparente al XRF para maximizar la señal XRF.
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Armario de estación
| - Armario de estación con luces de advertencia y cristal de plomo para la seguridad de la operación de rayos X
- La caja de control de la platina XY está integrada en el armario de la estación
- Uncontador/dosímetro digital Geiger de alta precisión opcional puede ser montado en el gabinete para monitorear el nivel de radiación (Haga clic en la foto de abajo)
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Control y análisis XRF
| - Se incluye un ordenador portátil con software de control XRF preinstalado y software de análisis de espectro para el control remoto del espectrómetro XRF y el análisis de datos
- El software de control/análisis es capaz de
- Ajustar la configuración de medición: Tensión/corriente de rayos X, tiempo de prueba, tamaño de punto, repeticiones de medición.
- Observación en tiempo real del área de medición en la superficie de la muestra mediante la cámara CMOS integrada
- Biblioteca de elementos por defecto para elementos de aleación: Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hr, Ta, W, Re, Pb, Bi
- Si lo desea, puede solicitar una biblioteca de elementos personalizada (hasta 40 elementos) para el análisis de cerámica u otras aplicaciones.
- Análisis de parámetros fundamentales, tanto cualitativa como cuantitativamente
- Corrección completa de la atenuación en el aire y la absorción de la ventana/protección de la ventana
- Modo automático para análisis continuos o repetidos
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Opciones
| - El sistema XRF puede actualizarse con funciones de escaneo lineal 1D y escaneo cartográfico 2D con un coste adicional
- Póngase en contacto con MTI para la personalización del sistema, como la etapa de muestra con diferentes dimensiones, la integración de la estación con una caja de guantes, etc.
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| Peso neto | |
Conformidad
 
| - Espectrómetro XRF: Homologación CE, FCC (EE.UU.), ICES-001 (Canadá)
- El EQ-XRF-32-LD cuenta con la certificación CE.
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| Garantía | - Garantía limitada de un año con soporte de por vida
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Dimensiones
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 820 נ680 נ1200 mm (L × P × H) (Profundidadcon la puerta abierta: 1050mm)
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| Peso de envío & Dimensiones | - 440 libras
- 48" x 40" x 56"
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| Vídeo de funcionamiento |  |
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