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GASia50D035C2US5
GaAs - Metodo di crescita: VGF (100) Drogato Si, tipo N, diametro 2" x 0,35 mm, 2sp
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GaAs - Metodo di crescita: VGF (100) Drogato Si, tipo N, diametro 2" x 0,35 mm, 2sp
MTI
- Wafer di cristallo singolo di GaAs
- Metodo di crescita: VGF
- Orientamento: (100)
- Dimensioni: 2" dia x 0,35 mm
- Lucidatura: Due lati lucidati
- Doping: Drogato con Si
- Tipo di conduttore: Tipo N
- Concentrazione di portatori: (1,60-3,94) E18 /cm^3
- Mobilità: (1400-2100) cm^2/V.S
- Resistività: (1,08-1,90) E-3 ohm.cm
- EPD: < 500 cm^2
- Ra (rugosità media) : < 0,4 nm
- Superficie e imballaggio pronti per l'EPI
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