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GASia50D035C1US5
GaAs - Método de crecimiento: VGF (100) dopado con Si, tipo N, 2" dia x 0.35mm, 1sp,cc: (1.65-3.92) x 10^18 /cm^3
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GaAs - Método de crecimiento: VGF (100) dopado con Si, tipo N, 2" dia x 0.35mm, 1sp,cc: (1.65-3.92) x 10^18 /cm^3
MTI
- Oblea monocristalina de GaAs
- Método de crecimiento: VGF
- Orientación: (100)
- Tamaño: 2" dia x 0.35mm
- Pulido: Una cara pulida
- Dopado: Si dopado
- Tipo de conductor: Tipo N
- Concentración de portadores: (1,65 - 3,92) x 10^18 /cm^3
- Movilidad: 1440 - 2270 cm^2/V.S
- Resistividad: (1,01 - 1,90) E-3 ohm.cm
- EPD: < 500 cm^2
- Ra(Rugosidad media) : < 0,4 nm
- Superficie y empaquetadura listas para EPI
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