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GASia76D0625C2US5
GaAs, Método de crecimiento: VGF(100) dopado con Si, tipo N, 3" dia x 0.625mm, 2sp, Concentración de portador: (1.4-3.96) x 10^18 /cm^3 - GASia76D0625C2US5
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GaAs, Método de crecimiento: VGF(100) dopado con Si, tipo N, 3" dia x 0.625mm, 2sp, Concentración de portador: (1.4-3.96) x 10^18 /cm^3 - GASia76D0625C2US5
MTI
- Oblea monocristalina de GaAs
- Método de crecimiento: VGF
- Orientación: (100)+/- 0,5 grados
- Tamaño: 3" dia x 0.625mm
- Pulido: dos caras pulidas
- Dopado: Si dopado
- Tipo de conductor: S-C-N
- Concentración de portadores: (1,06-3,96) x 10^18/cm^3
- Movilidad: 1420-2480 cm^2/V.S
- Resistividad: (1,1-2,38) E-3 ohm.cm
- EPD: <1000cm^2
- Ra(Rugosidad media) : < 0,4 nm
- Superficie y empaquetadura listas para EPI
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