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GEGae50D05C1R1US
Ge Wafer (110) dopado con Ga, 2" dia x 0.5 mm, 1SP Resistividad : 1-10 ohm-cm
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Ge Wafer (110) dopado con Ga, 2" dia x 0.5 mm, 1SP Resistividad : 1-10 ohm-cm
MTI
Especificación Ge Wafer
- Método de cultivo: CZ
- Orientación: (110) +/_0.5 Deg.
- Tamaño de la oblea: 2" dia x 500 micras
- Pulido superficial: pulido óptico por un lado
- Acabado superficial (RMS o Ra) : < 30A
- Dopado: Dopado de Ga
- Tipo de conductor: Tipo P
- Resistividad: 1-10 Ohms/cm (Si desea medir la resistividad con precisión,
pida nuestro Resistivímetro portátil de 4 sondas.) - Embalaje: sala blanca de clase 1000
Propiedades típicas:
- Estructura: Cúbica, a = 5.6754 A
- Densidad: 5,323 g/cm3 a temperatura ambiente
- Punto de fusión: 937.4 oC
- Conductividad térmica 640
