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GESbe50D05C2R01US
Ge Wafer (110)N type, Sb doped, 2" dia x 0.5 mm, 2SP Resistividad: 0.1-0.5ohm.cm
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Ge Wafer (110)N type, Sb doped, 2" dia x 0.5 mm, 2SP Resistividad: 0.1-0.5ohm.cm
MTI
Especificación Ge Wafer
- Método de cultivo: CZ
- Orientación: (110) +/_0.5 Deg
- Tamaño de la oblea: 2" dia x 500 micras
- Acabado superficial (RMS o Ra) : Pulido óptico de dos caras < 30A
- Dopado: Sb dopado
- Tipo de conductor: Tipo N
- Resistividad: 0,1-0,5ohm.cm (Si desea medir la resistividad con precisión,
pida nuestro Resistivímetro portátil de 4 sondas.) - Embalaje: en sala blanca de clase 1000
Propiedades típicas:
- Estructura: Cúbica, a = 5,6754 A
- Densidad: 5,323 g/cm3 a temperatura ambiente
- Punto de fusión: 937,4 oC
- Conductividad térmica: 640
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