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GEGac50D04C2R0035US
Ge Wafer (111) 2" dia x 0.4 mm, 2SP, tipo P ( Ga dopado) Resistividades: 0,035-0,039ohm-cm
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Ge Wafer (111) 2" dia x 0.4 mm, 2SP, tipo P ( Ga dopado) Resistividades: 0,035-0,039ohm-cm
MTI
Especificación Ge Wafer
- Método de cultivo: CZ
- Orientación: (111) +/_0.5 Deg.
- Tamaño de la oblea: 2 "de diámetro x 400 micras
- Pulido de superficie: Pulido epi en dos caras
- Rugosidad superficial: < 8 A ( por AFM)
- Dopado: Ga dopado
- Tipo de conductor: Tipo P
- Resistividad: 0,035-0,039 Ohms/cm (Si desea medir la resistividad con precisión,
pida nuestro Resistivímetro portátil de 4 sondas.) - Embalaje: sala blanca de clase 1000
Propiedades típicas:
- Estructura: Cúbica, a = 5.6754 A
- Densidad: 5,323 g/cm3 a temperatura ambiente
- Punto de fusión: 937.4 oC
- Conductividad térmica 640
